CPC 795 - Tópicos especiais em tecnologia ambiental

Objetivos

Este curso irá capacitar o aluno com conhecimento teórico e prático básico sobre as técnicas clássicas de microscopia óptica, eletrônica e microtomografia para desenvolvimento de pesquisas com obtenção de imagens 2D e 3D. Espera-se que ao final do curso o aluno esteja habilitado a identificar os princípios básicos da microscopia óptica, eletrônica e microtomografia, além das suas aplicações aos materiais mais diversos, auxiliando na interpretação dos resultados obtidos nas suas pesquisas.

Ementa (Syllabus)

  1. Introdução

  2. Microscopia Óptica (MO): Princípios da óptica; Formação da Imagem; Componentes do MO; Técnicas; Aplicações.

  3. Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV): Esquema Geral do MEV; Componentes do MEV; Interação Elétron-Amostra; Detectores; Técnicas; Aplicações.

  4. Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET): Introdução; Características básicas; Técnicas; Aplicações.

  5. Microtomografia por Transmissão de raios X (µCT): Introdução; Características básicas; Interação da radiação com a matéria; Detecção; Resolução e Contraste; Ruídos e Artefatos; Técnicas; Aplicações.

 

Bibliografia (Bibliography

[1] Jerome Mertz - Introduction to Optical Microscopy, “Roberts and Company Publishers”, 2009;

[2] Joseph I. Goldstein et al., “Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis”, 4th edition, Springer, 2018;


[3] Willi A. Kalender, “Computed Tomography: Fundamentals, System Technology, Image Quality, Applications”, 3rd edition, Publicis, 2011;

 

Professor

  • Paulo Couto (Pleno) - Pec/Coppe/Ufrj

 

Créditos / CH (Credits/ Workload)

3.0 / 45h 

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